面向 SiC / GaN 双脉冲测试的同步测量方案

发布时间
2026-02-18
分类
技术分享
作者
meastek_admin
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SiC / GaN 器件开关速度快,测试链路中的带宽、延迟和接线寄生参数会被放大。双脉冲测试需要同步观察栅极驱动、电流和开关节点电压,才能完整评估器件表现。

建议在测试前统一校准探头延迟,并记录线缆长度、供电方式和示波器设置,保证多轮数据具备可比性。